离子迁移CAF绝缘电阻劣化评估系统
评估系统,绝缘电阻劣化评估系统是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压，经过长时间的测试（1～1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生，并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，我们将其统称为绝缘劣化试验，可进行BHAST试验。
离子迁移CAF绝缘电阻劣化评估系统
特点
·高机能：采用驱动计测， 测试时焊接工序大幅减少
·软件设计简单明了，直观易操作
·远程监控功能，可监控试验过程。
·便利性高：构造装着脱落式、 易进行保养交换。可同时试验停 止等联动装置功能，系统构成灵活。
·测试自检功能：点检、校正方便。
·设计精巧，不受场所限制，易移动。
·可靠性高：配有CF卡，以防设备故障数据丢失。以UPS作为系统的支撑，确保试验的安全继续进行。
离子迁移CAF绝缘电阻劣化评估系统
应用：PCB、焊料、助焊剂、涂层材料等，GBA、DSP等，IC封装、电容器、连接器 等电子器件及材料绝缘材料吸湿特性测试评估。
离子迁移CAF绝缘电阻劣化评估系统
技术规格
类型 500V *1 1000V
通道数 32通道/64通（可选）
工作时间 1~9999小时
偏置电压 -100~+500VDC -100~+1000VDC
记性反转 具备
共负极测试（可选） 具备
CAF测试（可选） 具备
测试电压 1.0-99.9VDC (0.01V 步进) 100-500VDC (0.1V 步进) 1.0-99.9VDC (0.01V 步进) 100-1000VDC (0.1V 步进 |
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